毫米波雷达车标膜厚检测技术进展与挑战（附视频）

2021年9月17日，艾邦在上海卓越铂尔曼大酒店举办了《第二届毫米波雷达暨车标工艺技术高峰论坛》，在本次论坛上各位演讲嘉宾围绕着车载毫米波雷达产业的现状、困境以、未来发展趋势以及毫米波雷达的工艺技术等给大家做了细致的讲解，会议现场报道点击<传送门>。

今天带大家回顾一下博曼分析仪器中国区经理 何日华给大家分享的《毫米波雷达车标膜厚检测技术进展与挑战》。在本次论坛上何经理主要从三个方面给大家做了细致讲解：1、公司的概况；2、毫米波雷达车标膜厚的测量方法及原理；3、毫米波雷达车标膜厚检测技术的近况与发展。

何经理介绍到：博曼分析测量毫米波雷达车标膜厚在测量过程中需要用到X射线，X射线在测量领域有很多种不同的应用方法，测量毫米波雷达车标膜厚的方法是使用X射线荧光。在毫米波雷达车标镀层里面有很多金属元素，不同的元素有着不同的原子结构，在测量的时候使用入射X射线激发原子结构，把内层电子轰击出来让外层电子跃迁至内层，在跃迁过程中会有特征信号的释放，检测这些信号的释放并通过处理即能在电脑上以图表形式展现检测结果。

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https://www.aibang.com/v/auto/mwradar

X荧光射线测量也可称为层结构分析，用该方法测量的难点在于层结构原时间的相互干扰、信号吸收等。何经理指出需求带动XRF测量技术的发展，随着业界、客户对镀层工艺的不断改进，对测量方法也有着新的要求。

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毫米波雷达车标中用的最多的工艺是PVD镀铟，PVD镀铟的测量客户希望做到非接触、无损，快速大批量测试，纳米（次纳米）级测量精度。汽车行业PVD纳米层分别有镀铟、铟锡合金、镀铬、镀铝 ，其中PVD纳米镀铝较难，针对镀铝的检测博曼尝试了一系列测试方法，找到了较为适合的测量方案。

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